本发明涉及一种聚酰亚胺薄膜表面电荷特性分析方法,包括下列步骤:对聚酰亚胺薄膜样品进行电晕充电;迅速检测电晕充电后所述聚酰亚胺薄膜样品,检测所述聚酰亚胺薄膜样品的表面电位随时间的变化值并记录数据V(t),其中V表示表面电位,t表示时间;获取时间与V(t)对时间的导数的乘积与时间的关系,即tdV(t)/dt~logt;作出tdV(t)/dt~log对应的曲线,根据曲线状态评估聚酰亚胺薄膜表面电荷积累及消散能力的特性。本方法和装置不需要对聚酰亚胺薄膜进行任何破坏,能够实现无损检测,操作过程简单方便,能够直观、准确而有效地评估样品表面电荷积累及消散能力的情况。
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