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用于表面三维形貌测量的白光干涉系统

819   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:39
本发明公开了一种用于表面三维形貌测量的白光干涉系统,可对精密元器件提供无损、快速、高精度、电动的表面三维形貌测量。照明模块对光进行准直整形,成像模块将准直整形后的光分为物光和参考光,两束光的反射光合束后干涉,条纹调整和扫描模块调整参考镜的偏转姿态,在干涉条纹满足扫描要求时进行扫描,成像模块将干涉光放大成像后传输给处理模块,处理模块根据图像重现被测样品的表面三维形貌,被测样品利用样品夹持模块固定且利用对焦模块实现对焦,照明模块、条纹调整和扫描模块和成像模块利用系统固定模块固定,整个系统结构设计紧凑,具有体积小、便于集成、易于搬运、适合异地测试等优势,且参考镜的偏转角度可以实现电动精确调节。
声明:
“用于表面三维形貌测量的白光干涉系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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