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晶圆铜膜厚度离线测量模块控制系统

826   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:38
本发明公开一种晶圆铜膜厚度离线测量模块控制系统,采用上层控制系统和底层控制系统的两级控制模式,上层控制系统和底层控制系统之间通过工业以太网实现物理连接,其中,底层控制系统中,采用可编程控制器PLC负责直接控制离线测量模块的各个部分;上层控制系统中,采用工控机IPC通过PLC实时监控离线测量模块的状态,并为工艺人员提供操作软件,实现数据的管理。根据工艺需求,设置XY模式和全局模式两种主要测量模式。工艺流程分为标定和测量。上层控制系统软件利用Matlab实现绘图子程序,方便主程序灵活调用。本发明具有无损测试、操作简单、便于维护以及安全可靠的优点。
声明:
“晶圆铜膜厚度离线测量模块控制系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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