本发明通过分析低温对植物叶片生理状态变化的影响,以不同初始F
v/F
o值黄瓜幼苗为试验样本,测量在不同低温条件、持续时间下的F
v/F
o值变化数据,并构建建模样本集,采用量子遗传支持向量机算法建立低温环境下黄瓜叶片F
v/F
o值变化预测模型。模型训练集决定系数为0.9817,均方根误差为0.2141;测试集决定系数为0.9864,均方根误差为0.1741。结果表明,本发明方法可实现低温环境下的黄瓜叶片F
v/F
o的精准预测,为早期冷害胁迫和作物冷害无损诊断提供了新的研究方法。
声明:
“基于QGA-SVR的冷害黄瓜PSII潜在活性预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)