本发明的实施例涉及核径迹技术领域,尤其涉及一种用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法。适用于但不仅限于沿预定方向连续不间断传送的核孔膜的测量,可测量核孔膜的物理参数。设备包括:夹持系统,用于夹持核孔膜以将核孔膜的待测部分稳定地保持在测量位置;测量系统,用于在夹持系统将待测部分稳定地保持在测量位置时,测量核孔膜待测部分的物理参数;传送系统,当待测部分保持在测量位置时,用于使位于设备上游和下游的核孔膜沿原定方向继续传送。设备能够对处于传送状态的核孔膜进行测量,即不影响位于设备上下游的核孔膜的传送,也无需裁剪核孔膜,是一种无损测量设备。
声明:
“用于测量核孔膜的物理参数的设备和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)