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实现薄膜厚度精确测量的装置

636   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:32
本实用新型提出了一种实现薄膜厚度精确测量的装置,包括迈克尔逊干涉仪、图像传感器CCD、数据采集模块、硬件和驱动电路;迈克尔逊干涉仪用于产生干涉条纹,且迈克尔逊干涉仪上设有点光源;CCD用于记录迈克尔逊干涉仪产生的干涉条纹,且CCD与数据采集模块电性连接;数据采集模块设有计数器,计数器用于对干涉条纹进行计数,且计数器将计数结果输送至硬件;硬件与数据采集模块电性连接,且硬件内设有数据处理及输出模块,且数据处理及输出模块将硬件内的信息进行处理并输出;驱动电路与CCD电性连接。本实用新型具有快速、准确、无损伤和测量范围大等优点,可应用于工业生产的在线检测,在纳米技术的基础性研究中也有一定的应用价值。
声明:
“实现薄膜厚度精确测量的装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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