本发明公开了一种无针痕测试方法,包括:在第一非导电载体、第二非导电载体上分别设置导电胶,各所述导电胶分别与检测电路连接;将所述第一非导电载体的导电胶接触待检测电路板的顶层线路,将所述第二非导电载体的导电胶接触所述待检测电路板的底层线路;其中,所述顶层线路和底层线路处于所述待检测电路板的同一网络上;根据所述检测电路提供的检测指示,确定所述待检测电路板的检测结果。采用本发明技术方案采用面与面的接触方式代替点与面的接触,解决电路板测试中的针痕问题,实现无损伤测试。
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