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超导基带表面缺陷检测系统及其检测方法

606   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:06
本发明公开了一种超导基带表面缺陷检测系统,包括,光源,其输出激光并照射至超导基带的待检测表面;图像采集单元,其连续采集激光被待检测表面反射后的反射光图像;图像处理单元,其接收图像采集单元输出的反射光图像,对所述反射光图像进行处理,输出超导基带的表面缺陷程度。本发明的超导基带表面缺陷检测系统,用于超导基带抛光前后对其进行表面缺陷程度的非接触式无损伤、在线、长距离、连续检测,为下道生产工艺提供可靠的基带表面质量报告,提高生产高温超导带材的合格率;同时,还可以用于确定原带质量对抛光效果的影响。
声明:
“超导基带表面缺陷检测系统及其检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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