合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 光学无损探测单纳米颗粒表界面转化的方法

光学无损探测单纳米颗粒表界面转化的方法

668   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:00
本发明涉及一种光学无损探测单纳米颗粒表界面转化的方法。该方法利用单纳米颗粒表界面转化光学成像系统对单个纳米颗粒的表界面转化过程进行无标记识别,通过计算目标颗粒的本征参数ψ——这一特征量的变化,分析颗粒的表界面转化过程,克服目前现有分析方法难以对纳米颗粒的表界面转化过程进行原位实时精准分析与识别的难题,该方法具有非侵入性、高通量、抗干扰、研究对象宽泛等优点,可用于单粒子水平下的纳米颗粒表界面转化及构效关系等研究,拓展了纳米科学成像分析的应用。
声明:
“光学无损探测单纳米颗粒表界面转化的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记