本发明属于测量技术领域,具体为一种薄壁壳体无损综合测量装置。该测量装置包括:传感器、运动机构、基座、龙门架;其中,传感器采用双头精密位移传感器,包括上测头和下测头的双测头测量;运动机构为七自由度机构,包括四个移动自由度机构以及三个转动自由度机构;该装置针对变曲率薄壁壳体,通过更换传感器,以用于不同的测量需求,包括,内轮廓测量、外轮廓的测量、全局表面缺陷的测量等,可实现大尺寸、高陡度、深内腔的薄壁壳体的形位误差(内外表面形状误差、壁厚)及全局表面缺陷的高精度测量。
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