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太赫兹无损检测硅片电阻率的装置及其使用方法

906   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:52
一种太赫兹无损检测硅片电阻率的装置及其使用方法,涉及太赫兹技术领域。包括太赫兹辐射源、准直扩束系统、样品台、太赫兹探测器、计算机、机械吸盘、返工片收集盒;太赫兹辐射源设置在最下方,太赫兹辐射源垂直向上辐射太赫兹波,准直扩束系统设置在太赫兹辐射源的正上方,所述太赫兹探测器设置在准直扩束系统正上方,太赫兹探测器与准直扩束系统之间有一段间距,太赫兹探测器的探头朝下,用于接收太赫兹辐射,样品台设置在太赫兹探测器与准直扩束系统之间,能够沿水平面移动,计算机与太赫兹探测器数据线相连,机械吸盘与计算机数据线连接,返工片收集盒独立。可在不接触硅片的情况下,无损地测量硅片的电阻率,不会对硅片造成损伤。
声明:
“太赫兹无损检测硅片电阻率的装置及其使用方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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