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基于荧光光谱的稻种发芽率无损检测方法

1052   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:49
本发明涉及一种稻种发芽率无损检测方法,特别是涉及一种基于荧光光谱法的稻种发芽率检测方法,属于稻种无损检测领域,通过荧光分光光度计扫描建模所需的不同发芽率的稻种样品浸泡液,获取荧光光谱,进而采用小波去噪和主成分分析(PCA)对荧光光谱进行特征波段提取,用荧光光谱特征波段建立基于深度神经网络(DNN)的单输入单输出稻种发芽率预测模型,将待测稻种浸泡液荧光光谱特征波段输入训练好的稻种发芽率预测模型,得到发芽率。
声明:
“基于荧光光谱的稻种发芽率无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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无损检测
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