本实用新型公开了一种半导体无损检测设备,包括工作台,所述工作台的底部固定安装有支撑座,所述工作台的顶部设置有固定机构,所述工作台的顶部开设有滑道,所述滑道上滑动安装有滑块,所述滑块的顶部固定安装有弧形套筒,所述弧形套筒的内部固定安装有弧形滑杆。该一种半导体无损检测设备,本实用通过工作台、支撑座、滑块、弧形滑杆、弧形套筒、活动块、检测头、固定机构、圆形齿条、滑道、弧形槽、弧形齿条、第一电机、第一齿轮、第二齿轮和第二电机的配合使用,可使检测头在任意角度上,达到一个三百六十度的调整效果,方便了检测头从各个角度检测半导体的封装情况。
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