本发明公开了一种指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统,其特征在于,所述方法包括:建立标准参考指纹图谱;获取待测样品指纹图谱;计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的相关系数R
1;计算所述标准参考指纹图谱和所述待测样品指纹图谱之间的差异相似系数R
2;基于所述相关系数和差异相似系数计算综合相似度。本发明的计算方法能够从样品的化学组成及含量差异两个方面反映样品的相似程度,并且适用于不同类型复杂样品体系的需要。
声明:
“指纹图谱相似度计算方法、装置和样品质量评价系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)