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利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法

1112   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:31:06
本发明提供了一种利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法,涉及鉴定方法领域。该方法包括:取瓷松的真品制得标准样品,采用X射线荧光能谱法分析标准样品,得到瓷松中化学元素的类别和含量;取多个瓷松真品进行X射线荧光能谱法分析,得到瓷松的化学元素数据,建立瓷松的标准指纹图谱;取待测绿松石制样得待测样品,采用X射线荧光能谱法分析待测样品,获得待测样品的X射线荧光能谱,再与标准指纹图谱进行比对。这种方法能够通过测定化学元素的特征X射线谱线的波长和强度,对瓷松的化学组成进行定性和定量分析,方法灵敏度高,可有效鉴别瓷松的真伪、优劣。
声明:
“利用X射线荧光能谱鉴定瓷松的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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