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高硅抛光片表面贵金属离子回收率测试方法

672   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:28:47
本发明涉及一种高硅抛光片表面贵金属离子回收率测试方法,通过采用新型萃取液对高硅抛光片表面贵金属离子萃取回收,提取贵金属,萃取液由低浓度的硝酸和盐酸配制而成,通过化学反应实现萃取液对贵金属元素的回收;采用新型萃取液,能够解决原有萃取液对于硅抛光片表面贵金属回收率低的问题,使铂Pt、银Ag、钯Pd和金Au的回收率达到了70%以上,提高硅抛光片表面贵金属测试的稳定性,从而满足对于硅抛光片表面贵金属离子的测试要求。
声明:
“高硅抛光片表面贵金属离子回收率测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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