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红外双色碲镉汞探测器台面钝化方法

744   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:27:46
本发明公开了一种红外双色碲镉汞探测器台面钝化方法,包括:步骤A:对双色碲镉汞探测器的芯片台面裸露的碲镉汞进行腐蚀,消除物理损伤薄膜,去除表面硫化锌膜层;步骤B:利用磁控溅射设备对经过步骤A处理后的芯片台面进行钝化处理;本发明在碲镉汞平面单色钝化工艺的基础上,选择磁控溅射设备,结合优化的台面湿化学预处理工艺,对溅射压力和靶间距离等关键参数进行系统优化,最终获得良好的表侧面钝化效果。
声明:
“红外双色碲镉汞探测器台面钝化方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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