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利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法

685   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:25:58
本发明涉及一种利用低分辨率近红外荧光谱测量HF高振动态粒子数分布的技术,它基于自发辐射荧光光谱技术,是一种测量HF分子高振动激发态能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于化学激光测试诊断技术领域,是为了简化在HF化学激光系统中测量振动激发态粒子数分布情况的过程而产生的,本发明只需要将HF基频自发辐射荧光光谱的几条P支谱线强度进行简单的加和即可,具有简单方便、精度高、非侵入性等特点。利用本发明,可以实现HF化学激光器中高振动激发态各个能级粒子数分布的快速测量。
声明:
“利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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