本发明公开了一种金属细丝超薄金属镀层厚度的测量方法,实现了直径小于20μm的金属细丝,金属镀层厚度小于0.2μm时镀层厚度的测量。首先取一定长度的样品,称量出总质量,采用化学检测的方法,将其完全溶解,利用电感耦合等离子体光谱仪测试出镀层金属的质量,样品总质量与镀层金属质量的差即为金属细丝的质量。然后根据金属细丝的质量,通过计算得到金属细丝的半径。最后利用扫描电子显微镜测试包含镀层的样品的直径,计算得出包含镀层样品的半径,该半径即为金属细丝的半径与镀层厚度的和,再减去金属细丝的半径即得金属镀层厚度。本发明的测试方法提高了超薄镀层厚度测试的准确度,具有很高的可操作性、重复性和再现性。
声明:
“金属细丝超薄金属镀层厚度测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)