本发明属于材料表面包覆技术领域,尤其涉及一种原子层沉积前驱体用量的监测系统及其方法与应用,包括:椭偏仪或X射线反射仪,用于质控体和基体以监控包覆层厚度;气体流量计,用于实时控制气体流量;微分
电化学质谱,用于监控尾气成分;所述椭偏仪与原子层沉积反应腔相邻设置;所述质控体与所述基体设于所述原子层沉积反应腔内,进行包覆处理;所述气体流量计设于所述原子层沉积反应腔内壁,所述微分电化学质谱与所述原子层沉积反应腔的尾气系统相连。对反应程度进行实时检测和反应结束状态进行预判,保证了基体和前驱体充分接触反应,实现对反应进程的准确把控,对前驱体用量的精确控制,解决了ALD包覆生产中前驱体用量大和利用率低的问题。
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