本发明属于化学检测方法技术领域,具体涉及到采用热电离同位素质谱法测定硼及化合物中硼?10丰度的具体方法。通过本发明技术方案,建立了热电离同位素质谱法对硼及化合物中硼?10丰度测定方法。通过选择样品的点样方式,基准试剂浓度的标定,升温电流的最优区间,电流升温的最佳时间等,以富集3mg碳化硼粉末为测定试料,方法精密度优于0.01%。方法准确可靠,满足该项目分析技术指标要求。
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