本发明公开了一种利用XRF荧光光谱仪测定二氧化硅含量的仪器分析方法,其特征在于:可分析的样品类型多。对固体、液体、松散粉末、压片、玻璃熔融片、滤纸等多种类型样品都可直接进行分析。该方法用来确定样品中已知元素的浓度。本方法采用二氧化硅为标准样品,以
氧化铝为基体在XRF仪器上建立标准曲线,得出标准曲线的回归方程,通过该回归方程计算得到二氧化硅含量。本发明能够实现快速检测陶粒中二氧化硅含量,精密度高,处理方便,节省化学分析试剂等优点,操作便捷准确。
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