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ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法

632   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:20:09
本发明涉及一种ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法,待测试样加入浓盐酸和浓硝酸,低温溶解后,定容在100mL容量瓶中,摇匀待测。用配制好的硅、钙、铝标准溶液在等离子体原子发射光谱仪上做出硅、钙、铝谱线强度-质量分数工作曲线,用该曲线分析待测试样,得到永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量。本发明使用的分析方法使用的化学试剂较少,对环境污染小,分析成本低,可以多元素同时测定,操作方便,分析速度快,缩短了分析周期,提高了分析效率,减轻了分析操作人员的劳动强度,测定结果有良好的稳定性、重现性和准确性、可靠、实用,能满足日常永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定需要。
声明:
“ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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