合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 金属薄膜缺陷的检测方法

金属薄膜缺陷的检测方法

1087   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:20:08
本发明提供一种金属薄膜缺陷的检测方法,先在半导体衬底上形成具有铜析出物的金属薄膜,然后执行湿法清洗工艺以在所述金属薄膜的表面形成与所述铜析出物对应的空洞,在执行湿法清洗工艺的过程中,湿法清洗工艺的清洗液会与金属薄膜表面的铜析出物发生化学反应从而形成所述空洞,通过空洞可以简单、准确及快速的得到金属薄膜表面的铜析出物的缺陷分布。进一步的,通过扫描所述金属薄膜以获得所述金属薄膜表面预定区域内的空洞的数量,可将金属薄膜表面的铜析出物缺陷可量化,由此可以表征金属薄膜的铜析出物缺陷的含量,从而通过铜析出物的含量评估金属薄膜的质量。
声明:
“金属薄膜缺陷的检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记