本发明公开了一种硅纳米线
芯片及基于硅纳米线芯片的质谱检测方法,检测方法,包括如下步骤:步骤一,制造硅纳米线芯片;将单晶硅片经表面洗涤预处理后经过金属辅助刻蚀、碱后刻蚀得到具有尖端的硅纳米线芯片;对硅纳米线芯片进行表面化学或
纳米材料修饰;步骤二,硅纳米线芯片质谱性能评估;步骤三,顶端接触取样及原位离子化质谱检测;本发明充分利用硅纳米线芯片的纳米结构特性和半导体特性,将接触式萃取转印和免基质质谱检测集合于一体,大大简化了复杂样本的采集、预处理和检测过程;本发明制造出的硅纳米线芯片能够同时具备吸附、萃取功能与质谱检测功能,还能保留有空间异质性的样本的原位信息。
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