本发明提供了一种青色力致发光材料,可在‑270℃至‑50℃的低温条件下实现材料损伤检测,其化学通式为Ba
(1‑X)Si
2O
2N
2:Eu
2+(X),其中,X的取值范围为:0.0001≤X≤0.5,其陷阱分布范围为‑270℃至400℃。本发明还提供了上述青色力致发光材料的制备方法和应用。本发明的青色力致发光材料,使用Eu
2+作为光吸收中心,吸收可见光后将能量存储于电子陷阱中,用于低温条件下的检测应用,更有利于极低温下的损伤检测应用。
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