合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 用于根据位置最小化化学偏移伪影的局部饱和脉冲

用于根据位置最小化化学偏移伪影的局部饱和脉冲

857   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:06:50
本发明涉及一种用于在磁共振光谱学或磁共振成像中接通局部饱和脉冲的方法,其中在饱和脉冲期间接通磁场梯度,该方法包括步骤:确定检查区域;确定饱和脉冲相对于该检查区域的位置;确定待饱和信号的频谱位置;根据饱和脉冲相对于检查区域的位置以及待饱和信号的频谱位置选择磁场梯度。
声明:
“用于根据位置最小化化学偏移伪影的局部饱和脉冲” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记