本发明涉及
电化学分析检测领域,且特别涉及一种
碳纳米管/金纳米
复合材料修饰电极在日落黄的检测中的应用。将这种碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极用于对日落黄的检测,检出限(3S/N)为0.02μmol/L,低于单层MMB修饰的金电极测定S的检出限(44μmol/L)。通过使用这种碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极对日落黄进行检测,能够有效地解决现有技术中对日落黄的检测,灵敏度低,装置复杂,成本高,不便于现场检测的问题。
声明:
“碳纳米管/金纳米复合材料修饰电极在日落黄的检测中的应用” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)