本发明涉及一种可用于铁离子高选择性检测的新型荧光探针制备和应用,属于分析化学技术领域,其化学结构如式(I)所示。本发明荧光分子探针含有C=N双键,在受光激发的情况下会导致双键顺反异构化,导致荧光量子产率降低,探针在483 nm处无荧光发射。而当Fe
3+与探针反应后,阻止了C=N双键的翻转,整个分子的刚性增加,483 nm处荧光显著增强,从而实现了探针对Fe
3+的高选择性识别检测。此外,本发明的荧光探针还可用于环境和活细胞等不同体系中的铁离子的检测,具有很好的应用前景。
式(I)。
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“基于分子异构化机理的可用于铁离子特异性检测的新型荧光探针的制备方法及应用” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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