本发明公开了一种基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法,主要涉及分析化学仪器应用技术领域,包括样品采集编辑,数据预处理,样品分析,模型校正,设备安装,样品预测,预测结果输出,采用化学计量学,如果样品的组成相同,则其光谱也相同,反之亦然。如果我们建立了光谱与待测参数之间的对应关系(称为分析模型),只要测得样品的光谱,通过光谱和上述对应关系,就能很快得到所需要的质量参数数据。
声明:
“基于近红外光谱技术检测粒度分布的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)