本发明涉及一种检测嵌段聚合物中接枝基团所在位置的方法。它基于结构复杂的聚合物结构中各组分,各个基团所处聚集态、化学结构的差异性上得到的关于基团所在位置的信息。在检测过程中,给予实验体系一定外部的扰动,收集一系列谱线,然后通过扰动相关移动窗口二维相关方法分析光谱数据,分析各组成部分的响应行为以及特征接枝基团的响应行为,由此得到特征接接枝基团与某组分、基团响应的信息是否具有一致性,既而通过进一步判断,得到特征接枝基团所在位置的信息。本发明适用于具有复杂化学、聚集态结构的聚合物体系的接枝基团的检测,并且分辨率高,重复性好,检测结果稳定,操作简单,具有推广和应用价值。
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