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基于侧抛式全光纤F-P结构的压力检测方法

963   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:02:28
本发明公开了一种基于侧抛式全光纤F‑P结构的压力检测方法,包括:利用化学腐蚀法腐蚀单模光纤一端,得到F‑P腔;使用侧面抛磨系统在F‑P腔两侧进行抛磨,得到侧抛式全光纤F‑P结构;将侧抛式全光纤F‑P结构与环形器、宽带光源、光谱分析仪组成压力测试系统;将侧抛式全光纤F‑P结构抛磨一端置于待测环境中,F‑P腔随外界压力变化产生轴向形变,根据压力、腔长、干涉光谱的变化关系,分析光谱分析仪采集的干涉光谱即可得到压力的大小。本发明压力检测方法采用化学腐蚀法制备的F‑P腔光滑且对比度、灵敏度高,并通过对F‑P腔侧面进行抛磨,使得腔体侧面变薄,对于气压更加敏感,能够用于临床医学检测气压,尤其是监测心脏稳定器对心脏吸附得压力。
声明:
“基于侧抛式全光纤F-P结构的压力检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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