本发明涉及降低分析物的测量中干扰化合物的影响的方法,更具体来说,涉及降低系统中干扰化合物的影响的方法,其中测试条(600)使用两个或更多个工作电极(12,14)。在本发明中,给第一个工作电极(12)施加第一个电位(E1),给第二个工作电极(14)施加具有相同极性但是比第一个电位(E1)大的第二个电位(E2)。
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