本发明涉及了一种热扩散法生产稳定同位素22Ne、20Ne产品中微量杂质的色谱分析方法,其特征在于应用关键组分分析数学概率理论,结合同位素分离实际状况,采用三点概括法实现稳定性同位素22Ne、20Ne气体纯度的气相色谱法一次检测。该方法通过检测稳定同位素22Ne、20Ne产品气体中氧气、氮气及氢气的含量来间接实现对22Ne、20Ne化学纯度的分析。该方法对高纯22Ne、20Ne同位素产品气体纯度检测灵敏度达到99.99%,产品中H2、O2、N2的杂质成分检测灵敏度达到3-20ppm级,而进样量为0.5-1.2ml,并且重现性好、速度快、方法简单方便、便于推广至稳定同位素22Ne、20Ne的生产质量控制及激光陀螺制备工艺的工作气体成分分析中。
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