合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 基于电化学发光自干涉测量溶液中发光层厚度及发光分子与电极之间距离的方法

基于电化学发光自干涉测量溶液中发光层厚度及发光分子与电极之间距离的方法

1052   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:46:30
本发明公开了一种基于电化学发光自干涉测量溶液中发光层厚度及发光分子与电极之间距离的方法,所述方法包括:(1)在电极体系的电解质溶液中含有发光分子或工作电极表面固定有发光分子,对电极体系施加电位,发光分子发光作为光源,工作电极产生干涉光;(2)依次采用准直镜、光纤和狭缝在垂直于工作电极的方向收集工作电极的干涉光信号,并用光纤光谱仪记录,得到工作电极的电化学发光自干涉光谱;(3)利用传输矩阵法和双光束干涉法对电化学发光自干涉光谱进行分析计算,得到发光层厚度或发光分子与电极之间距离。该方法测量的空间分辨率达到纳米级,对研究电化学发光的机理、提高其性能具有重要意义。
声明:
“基于电化学发光自干涉测量溶液中发光层厚度及发光分子与电极之间距离的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记