合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法

基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法

1281   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:46:27
本发明涉及仪器检测分析技术领域,具体涉及一种基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法,测定步骤包括:(1)平板玻璃基板化学组分的X射线荧光熔融法制样测定;(2)利用步骤(1)中测定的组分含量的平板玻璃基板建立相应组分的X射线荧光平板法测定的校准曲线;(3)利用步骤(2)建立的玻璃平板测定校准曲线对组分相似或相近的平板玻璃基板试样直接进行组分测定。本发明的特点在于通过X射线荧光平板法测试校准曲线的建立,可以实现对平板玻璃基板样品组分的直接测定与监控,无需对样品再进行破碎、研磨、熔融法制样或压片法制样等繁琐处理步骤,避免了熔融法或压片法制样测定等过程引入的人为误差,平板法直接测定方式简单、准确、节能、环保。
声明:
“基于X射线荧光直接测定平板玻璃基板化学组分的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记