本发明公开了一种用X荧光光谱法测定蛇纹石中二氧化硅、氧化镁、三氧化二铝含量的方法。与现有的检测技术相比较,本发明采用X射线荧光光谱法,克服了原有湿法化学分析方法操作复杂,分析时间长、使用试剂量大,易对环境造成污染等缺陷,实现了多元素同时测定,试剂用量少,操作安全环保的技术突破,具有分析速度快,样品熔融玻璃片保留时间长,分析精密度、准确度高,适合钢铁企业生产过程中现场快速分析的需求。
声明:
“X射线荧光光谱法测定蛇纹石化学成分的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)