本发明涉及改进的测量仪,所述测量仪使用降低分析物的测量中干扰化合物影响的方法,更具体来说,涉及降低其中测试条使用两个或多个工作电极的系统中干扰化合物影响的方法。在本发明中描述了测量仪,其给第一个工作电极(12)施加第一个电位(E1),给第二个工作电极(14)施加具有相同极性但是比第一个电位大的第二个电位(E2)。测量仪测量产生的电流,并且使用预先确定的算法来校正测量的电流,以补偿样本中存在的干扰化合物。
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“用于使用两个不同的施加电位来降低电化学传感器中的干扰的改进方法的测量仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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