本发明涉及一种基于Silica/chitosan/Ru纳米粒子
电化学发光法检测汞离子的方法,其是由步骤(1)合成掺杂壳聚糖和联吡啶钌的二氧化硅复合纳米粒子、(2)空白Silica/chitosan/Ru-ssDNA体系的制备、(3)Silica/chitosan/Ru-DNA/Hg体系的制备、(4)修饰电极的组装、(5)电化学发光信号检测、(6)ΔIi-CHgi标准曲线以及(7)检测组成,其无需复杂的探针分子标记和固定过程,省时、成本低并且不影响富含T碱基的DNA对汞离子的识别,同时将化学修饰电极、纳米粒子富集技术和电化学发光分析技术结合起来,实现了高灵敏度检测Hg2+,检出限达3pM。
声明:
“基于Silica/chitosan/Ru纳米粒子电化学发光法检测汞离子的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)