本申请涉及电子设备测试技术领域,并具体公开了提供一种测试设备,该测试设备用于电子设备伸缩机构的驱动力性能测试,测试设备包括:机台;支撑治具模组,设置在机台表面,用于容置电子设备;测力模组,设置在机台表面,且与支撑治具模组间隔设置;其中,电子设备伸缩机构可伸出于电子设备壳体的外部,并顶持测力模组,测力模组用于测试电子设备伸缩机构的驱动力性能是否正常。通过上述方式,本申请能够对电子设备伸缩机构的性能进行评估。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)