本发明公开了一种TDI线列红外探测器成像性能测试方法,具体包括以下步骤:S1、先将需要测试的红外探测器的基本参数进行登记,并将登记信息传送至存储器中进行保存,然后将红外探测器放置测试机台上准备进行成像性能测试;S2、启动测试机台上的性能测试设备,并将检测项目显示在装置上,本发明涉及红外线探测器技术领域。该TDI线列红外探测器成像性能测试方法,可实现对该红外探测器进行有效成像性能测试,且根据成像性能测试数据精确判断该红外探测器是否符合生产条件,同时使用的设备造价低廉,降低了经济成本,同时能够快速将测试数据传送至显示终端上供人员查看,为后续红外探测器的改进工作奠定了基础。
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