本发明公布了一种基于辐射源方式的绝缘材料的测试方法和装置,包括以下步骤:通过标准辐射源模拟触头电火花,通过MCU控制器控制电触头接触频率、接触电阻的测量频率,通过四端子法测量电触头的接触电阻,通过放大滤波板去除噪声,得到接触电阻值,在MCU控制器中调用故障检测算法,据此判断绝缘材料对电触头的电气性能影响。本发明通过标准辐射源模拟电火花,通过电触头接触电阻的阻值变化来判断绝缘材料对电触头电气性能的影响,各影响因素均可标准化,以实现绝缘材料的选择。本发明的检测条件客观标准,检测结果可重复,可靠性强。
声明:
“一种基于辐射源方式的绝缘材料的测试方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)