本发明属于电子封装设备相关领域,并公开了一种面向片式元件多节点检测的卷到卷转移系统,其包括底座,以及安装在该底座上的料卷输送装置、元件拾取装置、夹持装置和上视检测装置,其中料卷输送装置用于卷到卷进给物料,并在进给过程中将片式元件予以揭膜和覆膜处理;该元件拾取装置用于将片式元件执行拾取后转移到夹持装置予以检测,然后将其返回放置至料带料槽内,并分别采用下视观测相机对其进行下视位姿拍摄;该上视检测装置配合对片式元件执行上视位姿拍摄。本发明还公开了位置补偿各环节的优化处理算法和综合评价算法。通过本发明,能够确保在连续检测过程中实现片式元件的拾取和返回放置操作,同时具备高效率和高精度等优点。
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