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纳米晶材料检测系统

1043   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:31:25
本发明提供一种纳米晶材料检测系统,从上游至下游依次包括剥料设备、搬运设备、纳米晶材料检测设备及下料设备,所述剥料设备,用于对含有纳米晶材料的来料进行剥料,所述来料由从上至下依次层叠的隔离膜、纳米晶材料、基膜所形成的层状材料卷绕形成的料卷;所述搬运设备,用于将经过所述剥料设备剥料后的纳米晶材料搬运至纳米晶材料检测设备;纳米晶材料检测设备,用于将所述搬运设备搬运过来的所述纳米晶材料进行检测;所述下料设备,用于将经过所述纳米晶材料检测设备检测的纳米晶材料进行下料。根据本发明的纳米晶材料检测系统,能够自动化快速地进行剥离、搬运纳米晶材料、检测纳米晶材料及下料,效率高、稳定性好,节省人力。
声明:
“纳米晶材料检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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