本发明提供了一种基于单片机的密封性继电器性能测试方法及装置,所述方法包括以下步骤:(1)调用模数转换子程序及IIC协议,读取触点输入电压;(2)判断继电器输出命令,选择数字量范围;(3)判断数字量回检输入是否正常,若是,测试次数减1,继电器输出命令取反,并执行下一步,若否,调用报警子程序;(4)调用显示子程序,控制显示模块显示设置及测试次数,并返回到步骤(1)重新执行。本发明提供的一种基于单片机的密封性继电器性能测试方法和装置,其能对继电器的励磁性能进行检测。
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