合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 物理检测技术

> 半导体器件用测试座

半导体器件用测试座

787   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:30:39
本实用新型公开一种半导体器件用测试座,包括:PCB基板、至少一组左侧测试组片、至少一组右侧测试组片、左安装座和右安装座;所述左侧测试组片、右侧测试组片均由平行且竖直设置的第一测试片、第二测试片组成,且第一测试片、第二测试片之间具有绝缘层,此第一测试片、第二测试片均由中央片区、位于中央片区两端的第一引脚、第二引脚和位于中央片区下端的第三引脚组成;所述左侧测试组片、右侧测试组片中第一测试片的第三引脚和第二测试片的第三引脚呈对称设置。本实用新型电性能检测装置增强了测试组片的引脚与待测半导体芯片的接触压强,有利于提高测试组片的引脚与待测半导体芯片电接触的可靠性,也提高了使用寿命。
声明:
“半导体器件用测试座” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
物理检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记