本实用新型涉及电子
芯片性能检测的技术领域,具体涉及一种芯片引脚的可靠性实验测试仪,包括箱体,设置于箱体内的支架、温度监测装置、为引脚供电的测电装置及为引脚施加拉力的施重组件;所述支架上设置有用于夹紧芯片的锁紧组件,所述箱体的一侧设置有箱门,所述箱体侧壁的下部设置有热风的进风管、上部设置有出风管;实现了对引脚在不同温度、不同拉力作用下的导电稳定性检测,从而可以判断引脚的质量,降低芯片的废品率。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)