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一种半导体晶闸管性能测试装置

869   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:30:39
本实用新型公开了一种半导体晶闸管性能测试装置,包括底座,所述底座上固定设置有背板,所述底座上设有晶闸管,且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置,所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板,两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上,所述背板上还设有与活动板对应的传动机构,所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。本实用新型能够快速的对晶闸管进行性能检测,替代了人工检测的操作,大大提高了检测效率,且在检测的过程中有效的保护了晶闸管的引脚,避免了晶闸管引脚受到压力出现弯折损坏的问题,大大提高了晶闸管的使用寿命。
声明:
“一种半导体晶闸管性能测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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