本实用新型公开了一种半导体晶闸管性能测试装置,包括底座,所述底座上固定设置有背板,所述底座上设有晶闸管,且所述底座上设有与晶闸管对应的固定装置,所述背板远离晶闸管的一侧侧壁上滑动设置有两块活动板,两块所述活动板均通过滑块滑动设置在背板上,所述背板上还设有与活动板对应的传动机构,所述背板上还设有与晶闸管对应的测试机构。本实用新型能够快速的对晶闸管进行性能检测,替代了人工检测的操作,大大提高了检测效率,且在检测的过程中有效的保护了晶闸管的引脚,避免了晶闸管引脚受到压力出现弯折损坏的问题,大大提高了晶闸管的使用寿命。
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