本实用新型涉及一种快速变化压力的电子元件特性的检测装置,包括机架,在机架上设置检测平台,检测平台上方设有压力生成单元,在检测平台下方设有设备控制单元,在机架上设有设备移动单元,设备控制单元用于控制压力生产单元以及设备移动单元,设备移动单元用于控制压力生成单元的移动。采用了上述结构之后,使得在对显示屏进行点触测试时,不会产生刚性接触,保证产品性能检测的准确性,通过装置进行全自动化的进行操作。
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