本实用新型是属半导体器件检测技术领域。其主要解决集成电路性能检测的技术问题,提供一种通用集成电路测试仪。其主要技术特征在于设计了由44只阻值相同的电阻组成完全相同的两个集成块模拟工作条件,采用运算放大器组成了运算判断和阈值调节电路,由发光二极管显示。其用途是能迅速定性地判断被测集成块的好坏,同时半定量地反映其质量的稳定程度,为集成电路的研究、生产、销售,应用和维修提供了实用测试仪器。
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